一、计划概述
2022年8月,美国发布《芯片与科学法案》,法案通过微电子研究和下一代测量科学方法、标准和制造方法的开发,强调计量在美国确立半导体行业领导地位方面的关键作用。该法案要求NIST建立计量计划,通过推进测量科学、标准、材料表征、仪器仪表、测试和制造能力,加强美国微电子面向未来的变革性应用和发展。2022年9月,NIST发布《美国半导体行业的战略机遇》报告,对美国半导体生态系统面临的关键计量挑战以及应对这些挑战的策略等进行了分析。报告强调,美国半导体行业正处于关键发展阶段,而计量是最主要的挑战,也是最亟待解决的关键问题。美国要继续占据全球半导体产业的领先地位,就要在半导体的测量服务、先进计量研发试验台、先进制造计量新技术来源以及标准等方面发力并迎接挑战。2023年4月25日,NIST发布《美国国家半导体技术中心愿景和战略》报告,报告阐述了美国国家半导体技术中心(NSTC)将如何加快美国开发未来芯片和技术的能力,以保障美国的全球创新领先地位。2023年6月5日,NIST正式发布《半导体生态系统中的计量差距:建立芯片研发计量计划的第一步》报告,指出芯片研发计量计划,并将其进一步细化为10个优先重点领域,以解决最关键的计量研发缺口,旨在通过先进的测量、标准化、建模和仿真来加强美国半导体产业。
二、美国半导体生态系统面临的关键计量挑战
重大挑战 | 行业/产业缺口 | 战略重点 | 优先重点领域 |
1.材料纯度、性能和来源的计量 | 通过开发新的测量和标准,满足不同供应链对半导体材料纯度、物理性能和来源的日益严格的要求 | 开发专注于缺陷和污染物识别的测量技术、性能数据和标准,以支持整个供应链统一的材料质量和可追溯性 | 先进材料和设备计量 |
2.面向未来微电子制造的先进计量技术 | 确保关键计量技术的进步与前沿和未来的微电子和半导体制造并驾齐驱,同时保持美国的竞争优势 | 推进物理和计算计量工具,以适应先进的复杂、集成技术和系统的下一代制造 | 先进材料和设备计量
纳米结构材料表征计量学 |
3.在先进封装中实现集成组件的计量 | 提供跨越多个长度刻度的计量和物理特性,以加速未来一代微电子产品的先进封装 | 发展精密元器件与新材料的复杂集成计量,支撑强大的国内先进微电子封装产业 | 适用于3D结构和设备的高级计量技术
先进封装的材料表征计量 |
4.半导体材料、设计和元件的建模与仿真 | 改进对未来半导体材料、工艺、器件、电路和微电子系统设计进行有效建模和模拟所需的工具 | 使用多物理模型和下一代概念(如人工智能和数字孪生)创建先进的设计模拟器,使美国微电子设计师能够胜任 | 高级模型的验证和确认 |
5.半导体制造过程的建模与仿真 | 无缝建模和模拟整个半导体制造过程,从材料输入到芯片制造、系统组装和最终产品 | 开发先进的计算模型、方法、数据、标准、自动化和工具,使国内半导体制造商能够提高产量,加快上市时间,增强竞争力 | 面向下一代制造流程的高级建模 |
6.微电子新材料、工艺和设备的标准化 | 规范支持和加快微电子和先进信息通信技术发展和制造的方法 | 为下一代材料、工艺和设备创建标准、验证工具和协议,为美国工业加速创新和提高成本竞争力铺平道路 | 高级测量服务
设备和软件的互操作性标准
自动化、虚拟化和安全性标准 |
7.计量增强微电子元件和产品的安全性和来源 | 创造必要的计量进步,以增强供应链中微电子组件和产品的安全性和来源,并增加信任和保证。 | 寻求一种全面的硬件安全保护方法,包括标准、协议、正式测试流程和先进的计算技术,同时为供应链和最终产品中的微电子组件提供保证和来源。 | 供应链信任和高级计量的保障 |